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SY 5592-1993 聚合物冻胶型PIA-605 调剖剂

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 00:02:07  浏览:8498   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:聚合物冻胶型PIA-605 调剖剂
发布日期:1993-03-27
实施日期:1993-09-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2010-08-20
出版日期:1900-01-01
页数:7页
适用范围

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前言

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引用标准

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所属分类: 石油 石油勘探 开发 集输设备 石油钻采设备与仪器
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MIL-STD-1167C, MILITARY STANDARD: AMMUNITION DATA CARD (5 AUG 1985) [S/S BY MIL-STD-1168]., This standard establishes and describes the preparation, utilization and distribution of Ammunition Data Cards.
基本信息
标准名称:利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
英文名称:Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using Si(111) monatomic step
中标分类: 仪器、仪表 >> 仪器、仪表综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类: 试验 >> 试验条件和规程综合
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-12-30
实施日期:2012-05-01
首发日期:2011-12-30
作废日期:
主管部门:全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
提出单位:中国科学院
归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
起草单位:国家纳米科学中心
起草人:朱晓阳、杨延莲、贺蒙、高洁
出版社:中国标准出版社
出版日期:2012-05-01
页数:16页
适用范围

本标准规定了利用Si(111)晶面原子台阶高度样品校准原子力显微镜z向标度的测量方法。
本标准适用于在大气或真空环境下工作的原子力显微镜,并且其z 向放大倍率达到最大量级,即z向位移在纳米和亚纳米范围内,这是原子力显微镜用于检测半导体表面,光学器件表面和其他高科技元件表面中经常用到的检测范围。
本标准并未指出所有可能的安全问题,在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。

前言

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引用标准

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
ISO25178-6:2010 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 区域法 第6部分:表面结构测量方法分类(Geometricalproductsspecification—Surfacetexture:Areal—Part6:Classificationofmethods formeasuringsurfacetexture)
ISO/IECGuide98-3:2008 测量不确定度表示指南(Uncertaintyofmeasurement—Part3:Guide totheexpressionofuncertaintyinmeasurement)
ISO/TS21748:2004 测量不确定度评估的重复性、再现性和准确度评估的使用指南(Guidance fortheuseofrepeatability,reproducibilityandtruenessestimatesinmeasurementuncertaintyestimation)

所属分类: 仪器 仪表 仪器 仪表综合 基础标准与通用方法 试验 试验条件和规程综合